测试时被测 的某输出端不会变化，总是高
电平或低电子，自然该芯片通不过测试，除了该芯
片本身已损坏之外，常为该输出端外部负载过重或
对地、对源短路所致，如该输出端所驱动的下级
输人端性能变坏或短路，输出印刷线漏电或短
路，都会造成这种情况。有时由于该输出端接有电
容负载，使输出电平过一段时间才能变高，测试工
作频率较高的测试仅误测为低电平，而使测试通不
过。例如一块日本 数控系统
板，采用超能 型测试仪进行检查，发现其
中有一块 测试通不过。从诊断测试提
供的波形图看出无论输入脚高低电平变化，输出
脚总是低电平，有时为三态。分析该脚的输出电
路，发现该脚并联了一只电容器，将该电容器断开
再测，测试通过。用万用表测量该电容，有漏电现
象，调换新电容之后，该片测试通过。板上另一片
，测试也通不过，发现输出脚 总是高电
子。测其连线状态，发现该脚已和 相连，拆下该芯片离线测试却正常。用万用表测量该脚多层印
制版金属化焊脚孔，发现已和电源层短路。将该脚
孔割去不用，另接线输出。上述两处故障排除后，
该板恢复正常。
（）被测 的输入电平出错 由于器件的故
障、输入回路电路板短路、输入脚并接较大电容
器，或电路设计的某种需要，将输入脚拉到 或
等原因，有可能使测试失败。如同超能
在线测试仪对使能脚（脚）常接高电平
的 双向总线传输器芯片进行 测试时，
由于无法驱动 脚到低电平， 脚不能处于输
入状态，故给出“输入电平出错”，器件不能通过
测试。
对集电极开路输出芯片的测试时，由于集电极
开路的输出需要上拉电阻或连接在 与输出之间
的负载才能正常工作，否则集电极开路输出脚总是
低电平，而无法通过测试。在这种情况下，可用
电阻连接在 与开路输出脚之间，再进行测试，作进一步确认。有些在线测试仪（如 ）
的 测试软件可以任意设置连接一个内部的
电阻。上拉电阻到芯片的任何管脚，这就无需
外接电阻。如用 型在线测试仪对一块接口
板上的一片 芯片进行 测试时，从显示的
时序图中发现该芯片脚总是低电平，这正是属于
集电极开路输出而无上拉电阻的情况。仪器提示
脚未作测试，因此，需要和 连接 电阻再
测，测试通不过。将该片焊下来离线测试时，发现
脚已经击穿。
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