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数控系统电路板功能测试对 IC 在

发布时间:2012-11-10

一 、数控系统电路板功能测试对 IC 在
线测试仪的要求
( 1) 能跟踪系统的状态流 , 即产生各种逻辑状
态序列。状态流的跟踪意味着至少要连接地址总
线、数据总线 , 以便同时监测和对比地址总线和数
据总线的活动。由于这些总线上的信息可以多路传
输 , 故在测量中需要某些格式的限定条件以及校核
等待环与选通脉冲的定时 , 并对所选择的状态之间
的时间间隔进行测量。
( 2) 具有显示有效字、字序列或事件的开窗能
力以及足够大的触发能力。
( 3) 测试涉及控制线遇到的问题及其对执行系
统程序的影响 , 因而基本的测量是时间间隔和事件
序列 , 故监测分析仪器必须具有突出定时序列和毛
刺的能力 , 有把显示与发生在特定时间宽度时的条
件及某一毛刺进行对照的能力。
( 4) 在问题与数据传输有关时 , 此数据传输或
是在处理机的数据总线到输入输出线接口之间进
行 ; 或是在输入输出总线与外围设备之间进行 , 各
种数字系统的输入输出总线依据使用设备的类型 ,
因而监测设备具有同步或非同步的并串行能力。
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